特許
J-GLOBAL ID:200903078682937615
分光特性測定装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
西岡 義明
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-310766
公開番号(公開出願番号):特開平9-145601
出願日: 1995年11月29日
公開日(公表日): 1997年06月06日
要約:
【要約】【課題】 安定な分光放射強度分布を有し、一定の光入力に対する各波長における分光装置の出力強度を高い再現性で得られる分光特性測定装置を提供する。【解決手段】 分光特性装置6の入射側光学系1、3、4近傍に、分光装置本体6の使用波長付近に帯域を制限した光源モニタ用検出器2を配置するとともに、光源モニタ用検出器2の出力が一定となるように光源1の光量を調節する制御手段7を設け、分光装置の使用波長帯域近傍の光のみをモニタして光源の光量を調整することにより、入射側光学系1、3、4の波長強度分布条件を一定化する。
請求項(抜粋):
分光装置本体への光入力に対し、1あるいは複数の波長における分光装置本体の出力強度を測定する分光特性測定装置において、分光特性装置の入射側光学系近傍に、分光装置本体の使用波長付近に帯域を制限した光源モニタ用検出器を配置するとともに、光源モニタ用検出器の出力が一定となるように光源の光量を調節する制御手段を設け、入射側光学系の波長強度分布条件を一定化するようにしたことを特徴とする分光特性測定装置。
IPC (3件):
G01N 21/01
, G01N 21/84
, G01J 3/28
FI (3件):
G01N 21/01 D
, G01N 21/84 E
, G01J 3/28
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