特許
J-GLOBAL ID：200903078748971453
長物磁性材の構造欠陥を非破壊的に検査する方法および装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
三浦 邦夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-101247
公開番号（公開出願番号）：特開平6-331602
出願日： 1994年05月16日
公開日（公表日）： 1994年12月02日
要約：
【要約】【目的】 磁性体の長物材に存在する、長手方向の応力腐食による亀裂、ハードスポット、製造時に発生する製品のシワ、残留応力または曲げ・弛みによる応力、およびワイヤーの緩みによる撚線ケーブルの接触状態の変化といった構造欠陥を、簡易な方法および装置で検知すること。【構成】磁気検査装置に、渦電流検知器と、磁束検知器と、ディジタルプロセッサとを備え、渦電流検知器が発生する、構造欠陥を示す渦電流変化による第1の信号要素と、局部欠陥または金属断面欠損を示す磁束変化による第2の信号要素とからなる第1の信号と、渦電流検知器の下流に配設される磁束検知器が発生する、構造欠陥を示す渦電流変化による第3の信号要素と、局部欠陥または金属断面欠損を示す磁束変化による第4の信号要素からなる第2の信号とをデジタルプロセッサで処理することにより、渦電流磁気飽和方法を実行して、構造欠陥を容易にかつ正確に検知することを特徴とする長物磁性材の構造欠陥を非破壊的に検査する方法および装置。
請求項（抜粋）：
ワイヤーケーブル、ロッド、パイプ等の磁性体からなる長物材の構造欠陥を非破壊的に検査する磁気検査装置であって、軸方向に移動される被検査物に沿って所定間隔で配設された、相反する極性の二つのエンドポールを有する磁気手段;この磁気手段は、上記二つのエンドポールの間において被検査物内の第1の区間に形成される行き磁路と、磁気手段内の強磁性体内に形成される戻り磁路とを有する第1の磁束回路と;上記二つのエンドポールのいずれか一方の近傍でかつ上記第1の区間に隣接する第2の区間において被検査物内に形成される行き磁路と、被検査物の外部に形成される戻り磁路とを有する第2の磁束回路と;を誘導し、かつ、この第1の磁束回路と第2の磁束回路によって被検査物内にそれぞれ形成される行き磁路は、互いに反対方向であること;上記一方のエンドポール近傍に設けられた渦電流検知手段;上記他方のエンドポール近傍に設けられた磁束検知手段;この渦電流検知手段と磁束検知手段からの出力信号を用いて、被検査物の構造欠陥を検出する手段と;を備えたことを特徴とする磁気検査装置。
IPC (2件)：
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