特許

J-GLOBAL ID：200903078776018508

タッチレバー式寸法測定器のタッチレバー移動機構

発明者： 神谷 雅一
出願人/特許権者： 安藤電気株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-326231
公開番号（公開出願番号）：特開平7-151502
出願日： 1993年11月30日
公開日（公表日）： 1995年06月16日
要約：

【要約】【目的】 測定精度の向上が図れるタッチレバーのスライド機構と、ワークの中心軸に関係無く使用できるタッチレバーの動作機構を備え、高精度が要求される部品の点数を少なくして製作コストの低廉化を図る。【構成】 タッチレバー1Aとタッチレバー1Bは相対的に接近してワーク14を挟持する。タッチレバー1Aとタッチレバー1Bの相対的位置関係よりワーク14の外形を測定する。タッチレバー1Aとタッチレバー1Bを夫々プレート4Aとプレート4Bに取り付ける。プレート4A・4Bはラジアル軸受5A〜5Sによりレール3上を相対的反対方向に移動する。

請求項（抜粋）：

相対的に接近方向に移動してワーク(14)に挟持状態で当接する第1のタッチレバー(1A)と第2のタッチレバー(1B)を有し、第1のタッチレバー(1A)と第2のタッチレバー(1B)の相対的位置関係によりワーク(14)の外形を測定するタッチレバー式寸法測定器のタッチレバー移動機構において、第1のタッチレバー(1A)と第2のタッチレバー(1B)を固定保持する第1のプレート(4A)と第2のプレート(4B)を備え、前記両プレート(4A)・(4B)が夫々同一のレール(3) 上を相対的反対方向に移動可能に設けられていることを特徴とするタッチレバー式寸法測定器のタッチレバー移動機構。

IPC (3件)：

G01B 5/08 ,  G01B 5/02 ,  G01B 21/02