特許

J-GLOBAL ID：200903078791589848

対応点検出装置及び方法

発明者： 綾塚 祐二
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 小池 晃 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-161267
公開番号（公開出願番号）：特開2000-348175
出願日： 1999年06月08日
公開日（公表日）： 2000年12月15日
要約：

【要約】【課題】 正規化相関関数を用いて探索画像と被探索画像との対応点を少ない計算コストで検出する。【解決手段】 同一対象物を撮像した複数の画像間の相関を検出し、相関に基づいて画像間の対応関係を探索して、一の画像と他の画像との対応位置を示す座標の組からなる対応点候補を複数検出する探索手段11と、上記探索手段で検出された各対応点候補についての相関に基づく評価値を用いて、複数の対応点候補から所定範囲内の評価値の対応点候補を選択する選択手段12とを備える。

請求項（抜粋）：

同一対象物を撮像した複数の画像間の相関を検出し、相関に基づいて画像間の対応関係を探索して、一の画像と他の画像との対応位置を示す座標の組からなる対応点候補を複数検出する探索手段と、上記探索手段で検出された各対応点候補についての相関に基づく評価値を用いて、複数の対応点候補から所定範囲内の評価値の対応点候補を選択する選択手段とを備えることを特徴とする対応点検出装置。

IPC (2件)：

G06T 7/00 ,  G01B 11/00

FI (3件)：

G06F 15/70 460 A ,  G01B 11/00 H ,  G06F 15/62 415

Fターム (18件)：

2F065AA06 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065FF01 ,  2F065FF05 ,  2F065FF09 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065QQ31 ,  2F065UU05 ,  5B057BA02 ,  5B057DA07 ,  5B057DC32 ,  5L096CA05 ,  5L096EA35 ,  5L096FA34 ,  5L096JA03 ,  5L096JA09