特許

J-GLOBAL ID：200903078830230321

テスト機能を備える記憶装置及びメモリのテスト方法

発明者： 中村 泰弘
出願人/特許権者： 東京エレクトロン株式会社
代理人 (1件)： 木村 満 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-335614
公開番号（公開出願番号）：特開平11-175403
出願日： 1997年12月05日
公開日（公表日）： 1999年07月02日
要約：

【要約】【課題】 データを暗号化して記憶する記憶装置において、暗号化された暗号鍵の復号プログラムを外部に漏らすことなく、かつ、復号プログラムを記憶エリアのテストを可能とするテスト方法を提供する。【解決手段】 フラッシュメモリ11には、暗号化された暗号鍵kが記憶されている。外部からのアクセスが禁止されて、プロテクトされたROM14には、暗号鍵kを復号するための復号プログラムが記憶されている。この復号プログラムで暗号鍵kを復号し、この暗号鍵kを用いてデータを暗号化してフラッシュメモリ11に格納し、フラッシュメモリ11から読み出したデータを暗号鍵kで復号して出力する。復号プログラムを格納したエリアをチェックするため、復号プログラムを構成するデータをROM14に格納されたハッシュ関数で処理し、処理結果と期待値とを比較し、一致するとき、正常であると判別する。

請求項（抜粋）：

データを記憶するための第1の記憶手段(フラッシュ11)と、暗号鍵が暗号化されて記憶されている第2の記憶手段(フラッシュ11)と、前記暗号鍵(k)を復号化するための復号情報が格納された第3の記憶手段(T2)と、前記第3の記憶手段をテストするための関数を記憶した第4の記憶手段(T4)と、前記第3の記憶手段に記憶された復号情報を用いて前記暗号鍵を復号化し、外部より供給されるデータを復号化した暗号化鍵を用いて暗号化して、前記第1の記憶手段に書き込む書込手段(15)と、前記第3の記憶手段に記憶された復号情報を用いて前記暗号鍵を復号化し、復号化された暗号鍵を用いて前記第1の記憶手段から読み出されたデータを復号化して出力する読出手段(15)と、前記第3の記憶手段に記憶された復号情報を前記第4の記憶手段に記憶された関数で処理し、得られた値と期待値を比較し、比較結果を出力する比較手段と(15)、を備えることを特徴とする記憶装置。

IPC (4件)：

G06F 12/14 320 ,  G06F 12/16 330 ,  G11C 16/02 ,  G11C 29/00 671

FI (4件)：

G06F 12/14 320 A ,  G06F 12/16 330 A ,  G11C 29/00 671 Z ,  G11C 17/00 601 A

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開平3-147086
  
• 電子化データ保護方式
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-058048   出願人：富士通株式会社