特許
J-GLOBAL ID：200903078837962166
発症確率評価装置、および、プログラム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
木村 満
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-072481
公開番号（公開出願番号）：特開2006-259809
出願日： 2005年03月15日
公開日（公表日）： 2006年09月28日
要約：
【課題】 標本中に脱落が生じた場合でも、予測精度の評価を適切に行うことのできる発症確率評価装置等を提供する。【解決手段】 制御部は、イベントデータテーブルを取得し(ステップS33)、発症確率の小さい順にソートした後、グループ分けを行う(ステップS34)。そして、脱落標本の有無を判別して(ステップS35)、脱落標本があった場合に、修正観察発症率算出処理を行う(ステップS37)。つまり、脱落標本を考慮した修正観察発症率を算出する。制御部は、この修正観察発症率及び、発症確率等を用いてカイ2乗値を求める(ステップS38)。そして、求めたカイ2乗値から精度評価値を求める(ステップS39)。【選択図】 図8
請求項（抜粋）：
各被験者の発症確率を含む標本データを記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶される標本データを発症確率の順番に基づいて、所定数のグループに分類する分類手段と、
前記分類手段により分類されたグループ単位に脱落が生じた標本データの有無を判別する判別手段と、
前記判別手段により脱落が生じた標本データがあると判別されると、時系列にカウントした脱落標本数と発症標本数との関係に基づいて、修正観察発症率を算出する修正観察発症率算出手段と、
前記修正観察発症率算出手段により算出された修正観察発症率を含む数式を用いて、カイ2乗値を算出するカイ2乗算出手段と、
前記カイ2乗算出手段により算出されたカイ2乗値に基づいて、精度評価値を取得する精度評価値取得手段と、
を備えることを特徴とする発症確率評価装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
引用文献：
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