特許
J-GLOBAL ID:200903078858781790

半導体ウエーハ

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 秋田 収喜
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-085808
公開番号(公開出願番号):特開平6-302484
出願日: 1993年04月13日
公開日(公表日): 1994年10月28日
要約:
【要約】【目的】 半導体デバイスの製造プロセスにおいて、発塵量の少ない半導体ウエーハを提供する。【構成】 半導体ウエーハ1の主面1Aと対向するその裏面1Bの粗さ精度tを最大高さ1.0μm乃至4.0μmに設定する。
請求項(抜粋):
半導体ウエーハの主面と対向するその裏面の粗さ精度を最大高さ1.0μm乃至4.0μmに設定したことを特徴とする半導体ウエーハ。

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