特許

J-GLOBAL ID：200903078886483745

薄膜磁気デイスク

発明者： 高垣 篤補 ,  米川 隆生 ,  古澤 賢司
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-279266
公開番号（公開出願番号）：特開平5-120665
出願日： 1991年10月25日
公開日（公表日）： 1993年05月18日
要約：

【要約】【目的】面内磁気記録媒体において、面内結晶配向性、及び保磁力が高い磁化遷移幅の狭い面内磁気記録媒体を形成したことを特徴とする磁気ディスク。【構成】基板上にクロム下地層を介して形成した、最密六方晶を基本構造としコバルトを主成分とする合金薄膜からなる磁気記録媒体を用いた薄膜磁気ディスクにおいて、X線回折により測定した(110)極点図形の最大強度の80%の強度に対応する等高線が膜面内方向から法線方向へ測定した角度にして80度以上に存在し、かつ(100)極点図形の最大強度の80%の強度に対応する等高線が膜面内から法線方向へ測定した角度にして50度から70度の間で、かつ膜面内において半径方向外向きから測定した角度にして-70度から70度の間、及び110度から250度の間に存在する磁気記録媒体を用いたことを特徴とする薄膜磁気ディスク。【効果】本発明によれば、一定の結晶配向性を持つ薄膜磁気記録媒体を得られるため、保磁力が30%程度向上し、また磁化遷移幅を10%以上狭くすることが出来る。

請求項（抜粋）：

基板上にクロム下地層を介して形成した、最密六方晶を基本構造としコバルトを主成分とする合金薄膜からなる磁気記録媒体を用いた薄膜磁気ディスクにおいて、X線回折により測定される(110)極点図形の最大強度の80%の強度に対応する等高線が膜面内方向から法線方向へ測定した角度にして80度以上に存在し、かつ該(100)極点図形の最大強度の80%の強度に対応する等高線が膜面内から法線方向へ測定した角度にして50度から70度の間で、かつ膜面内において半径方向外向きから測定した角度にして-70度から70度の間、及び110度から250度の間に存在する磁気記録媒体を用いたことを特徴とする薄膜磁気ディスク。

IPC (2件)：

G11B 5/66 ,  G11B 5/82