特許

J-GLOBAL ID：200903078907439954

分光光度計

発明者： 田中 宏
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 西岡 義明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-146882
公開番号（公開出願番号）：特開平8-015013
出願日： 1994年06月29日
公開日（公表日）： 1996年01月19日
要約：

【要約】【目的】 全波長範囲にわたって低ノイズで吸収スペクトルを測定することができるようにする。【構成】 光源1からの光を集光レンズ2により集光して試料セル4に導き、サンプルの透過光をスリット5を経て凹面グレーティング6により分光した後、フォトダイオードアレイ7の面上にスリット5の像を結像させる。一方、読み出しスイッチ...、Sn-1 、Sn 、Sn+1 、...はフォトダイオードアレイを構成する各受光素子...、Dn-1 、Dn 、Dn+1 、...の電荷蓄積時間がバックグラウンド強度に応じて変化するように開閉制御されるので、各受光素子の蓄積電荷はバックグラウンド強度の影響を受けず、ほぼ一定となる。

請求項（抜粋）：

光源と、光源からの光が導かれる試料セルと、試料セルの透過光が導かれる分光器と、分光器により分光された光が入射するフォトダイオードアレイとを備えた分光光度計において、フォトダイオードアレイを構成する各受光素子の読み出しスイッチの開閉周期を独立に制御する制御回路を設け、各受光素子の電荷蓄積時間が異なるようにしたことを特徴とする分光光度計。