特許
J-GLOBAL ID:200903078954177763

集積回路試験装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 志賀 正武 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-068823
公開番号(公開出願番号):特開平9-257879
出願日: 1996年03月25日
公開日(公表日): 1997年10月03日
要約:
【要約】【課題】 試験プログラム作成者がパラメータ値を入力すると同時にその値の妥当性の検査が行われる集積回路試験装置を提供する。【解決手段】 試験部204は、設定されたパラメータ値に従って集積回路の試験を実行する。中央制御装置201の試験プログラム作成手段207は、オペレータ操作卓202を介して入力される情報を用いて試験プログラム206を作成する。また、試験部204における試験条件を決定するパラメータ値がオペレータ操作卓202を介して入力された場合に、当該パラメータが試験部に設定可能なパラメータか否かの妥当性検査を実行し、試験部に設定可能なパラメータでない場合に当該パラメータ値の再入力を要求する。
請求項(抜粋):
設定されたパラメータ値に従って集積回路の試験を実行する試験部と、情報を入力するための操作部と、前記操作部を介して入力される情報を用いて試験プログラムを作成するプログラム作成手段と、前記試験部における試験条件を決定するパラメータ値が前記操作部を介して入力された場合に、当該パラメータが前記試験部に設定可能なパラメータか否かの妥当性検査を実行する妥当性検査手段とを具備することを特徴とする集積回路試験装置。
IPC (2件):
G01R 31/28 ,  G06F 11/22 310
FI (2件):
G01R 31/28 H ,  G06F 11/22 310 A

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