特許
J-GLOBAL ID：200903079044195594
製品品質影響要因解析方法及び成形条件調整方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
竹本 松司 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-286148
公開番号（公開出願番号）：特開平8-118443
出願日： 1994年10月27日
公開日（公表日）： 1996年05月14日
要約：
【要約】【目的】 製品の良否判別に有益なデータを適確に選択することができ、また成形異常を解消するための成形条件を容易に判断して適当な調整作業を行い得る。【構成】 射出成形作業に関連する諸条件相互のデータの変動の相関性を示す相関係数を求めて主成分分析を行うことにより第1主成分軸と第2主成分軸を求め、各主成分軸に対する諸条件のばらつきに対応する点を直交座標系上にプロットする。諸条件のデータに最も大きな変動を与える第1主成分軸および第2主成分軸を基準として諸条件相互のデータの変動傾向の特性を総合的に評価することにより、良否判別のための検出データや条件調整のための成形条件の選択を容易化し、良否判別や成形条件の調整作業を簡単にする。
請求項（抜粋）：
射出成形作業に関連する諸条件のデータを各々予め決められた成形サイクル毎に検出してデータ列として記憶し、該各データ列より前記条件を関連性のあるグループに分類する多変量解析を行い、データ列の変化の特徴が類似した条件同志をグループ化し、このグループ化された条件によって射出成形機で成形された製品の品質影響要因を解析する製品品質影響要因解析方法。
IPC (2件)：
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