特許

J-GLOBAL ID：200903079180528920

赤外線水分計における予測水分率測定方法および装置

発明者： 渡辺 利通
出願人/特許権者： 株式会社ケツト科学研究所
代理人 (1件)： 浅村 皓 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-125739
公開番号（公開出願番号）：特開平5-093684
出願日： 1991年05月29日
公開日（公表日）： 1993年04月16日
要約：

【要約】【目的】 穀物等の試料の水分率の測定時間を少なくした赤外線水分計を提供する。【構成】 試料Gを試料皿2上に導入し試料の初期重量Woを測定した後、その試料の加熱乾燥を開始してから、所定時間△t毎に試料の重量Wtを測定し数式1にしたがって水分率Mtを計算すると共に、その水分率と1回前の水分率との差△Mtと所定時間△tとから水分率の変化率(△Mt/△t)を計算し、数式5に当てはめて最終水分率を予測し、その予測水分率MEと1回前で求めた予測水分率との差が0.1以下になったとき、乾燥曲線はほぼ収束状態に達したものとみなして、そのときの予測水分率Mtを最終水分率と決定するようにしている。

請求項（抜粋）：

赤外線水分計に所要量の試料を導入するステップと、該導入試料の初期重量を測定すると共に、該試料の加熱乾燥を開始し、かつタイマを始動させる始動ステップと、所定の時間間隔で試料の重量を測定すると共に、その測定値と前記始動ステップで測定された初期重量とに基づいて水分率を計算する測定計算ステップと、各測定計算ステップ毎に求められた水分率の変化率を計算する変化率計算ステップと、前記測定計算ステップで求められた複数個の水分率と前記変化率計算ステップで計算された複数個の変化率とに基づき、前記試料の水分率を計算し予測するステップと、該予測ステップで求められた予測水分率とそれ以前に求められた予測水分率との差が所定値以下になったとき、最終の予測水分率を前記試料の水分率と決定するステップと、を備えた赤外線水分計における予測水分測定方法。