特許

J-GLOBAL ID：200903079248073412

識別対象物のエッジ検出方法

発明者： 中村 宏
出願人/特許権者： 株式会社三協精機製作所
代理人 (1件)： 後藤 隆英
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-344902
公開番号（公開出願番号）：特開平7-175954
出願日： 1993年12月20日
公開日（公表日）： 1995年07月14日
要約：

【要約】【目的】 付着物等にかかわらず、識別対象物11のエッジ検出を精度良く行うことを可能とする。【構成】 識別対象物11の輝度そのものを利用することなく、本来のエッジ部分での輝度変化が対称性を有することを利用して、輝度投影ヒストグラムHH,VHと走査線SH,SVとが交わる一対の交点H1 ,H2 及びV1 ,V2 における両側の勾配θH1とθH2、及びθV1とθV2とを比較し、両者が互いに略一致する点を、識別対象物のエッジとして検出するもの。

請求項（抜粋）：

識別対象物に検査光を照射し、その反射光から得た輝度投影ヒストグラムを走査し、当該輝度投影ヒストグラムと走査線とが交わる一対の交点を、上記識別対象物のエッジとして検出するようにした識別対象物のエッジ検出方法において、上記輝度投影ヒストグラムの値が基準値を越える領域で、輝度投影ヒストグラムと走査線とが交わる一対の交点における勾配をそれぞれ求め、求めた両側の勾配どうしが互いに略一致する点を、前記識別対象物のエッジとして検出するようにしたことを特徴とする識別対象物のエッジ検出方法。

IPC (4件)：

G07D 5/10 ,  G06T 1/00 ,  G06T 7/00 ,  G06T 9/20

FI (3件)：

G06F 15/62 380 ,  G06F 15/70 325 ,  G06F 15/70 335 Z