特許
J-GLOBAL ID：200903079294544870
分光分析装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
東島 隆治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-292983
公開番号（公開出願番号）：特開2004-125712
出願日： 2002年10月04日
公開日（公表日）： 2004年04月22日
要約：
【課題】透過型測定、反射型測定の切り替え構成が簡単でかつ小型化された、汎用性の高い分光分析装置を提供する。【解決手段】本発明の分光分析装置は、レーザと、レーザ光を分割して第1の分岐光と第2の分岐光とを出力する光分割手段と、第2の分岐光に可変的に時間遅延を与える遅延手段と、第1の分岐光を入力して電磁波を放射する電磁波放射手段と、電磁波を測定試料に照射する電磁波照射手段と、電磁波が測定試料を透過する透過位置と電磁波が測定試料で反射する反射位置とに測定試料を選択的に配置する測定試料配置手段と、遅延した第2の分岐光と透過電磁波とを入力してその検出信号を出力する第1の検出器と、遅延した第2の分岐光と反射電磁波とを入力してその検出信号を出力する第2の検出器と、を有する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
レーザと、
前記レーザの照射光を入力して分割し、第1の分岐光と第2の分岐光とを出力する第1の光分割手段と、
前記第2の分岐光を入力し、可変的に時間遅延を与え、遅延した第2の分岐光を出力する遅延手段と、
前記第1の分岐光を入力し、電磁波を放射する電磁波放射手段と、
前記電磁波を平行化して測定試料に導き照射する電磁波平行化手段と、
電磁波が前記測定試料を透過する透過位置と、電磁波が前記測定試料で反射する反射位置とに測定試料を選択的に配置する測定試料配置手段と、
前記測定試料を前記透過位置に配置した場合、前記測定試料を透過した電磁波を第1の検出器に集光する透過電磁波集光手段と、
前記遅延した第2の分岐光をトリガーとして入力し、集光された透過電磁波を入力してその検出信号を出力する前記第1の検出器と、
前記測定試料を前記反射位置に配置した場合、前記測定試料で反射した電磁波を第2の検出器に集光する反射電磁波集光手段と、
前記遅延した第2の分岐光をトリガーとして入力し、集光された反射電磁波を入力してその検出信号を出力する前記第2の検出器と、
を有することを特徴とする分光分析装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N21/35 Z
, G01N21/27 B
2G059AA02
, 2G059BB10
, 2G059BB16
, 2G059EE01
, 2G059EE02
, 2G059EE12
, 2G059FF04
, 2G059GG01
, 2G059GG02
, 2G059GG04
, 2G059GG08
, 2G059JJ01
, 2G059JJ11
, 2G059JJ13
, 2G059JJ14
, 2G059JJ19
, 2G059JJ22
, 2G059JJ24
, 2G059JJ30
, 2G059MM01
, 2G059MM09
, 2G059MM10
