特許
J-GLOBAL ID:200903079294727648

ウェーハ、エピタキシャルウェーハ及びそれらの製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 石原 詔二
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-284803
公開番号(公開出願番号):特開2001-167995
出願日: 2000年09月20日
公開日(公表日): 2001年06月22日
要約:
【要約】【課題】環境からのボロン汚染を抑制しデバイス特性に悪影響を与えない品質の安定したシリコンウェーハ、エピタキシャルウェーハ及びそれらの効果的な製造方法を提供する。【解決手段】表面の付着ボロンの量が1×1010atoms/cm2以下であるようにした。
請求項(抜粋):
表面の付着ボロンの量が1×1010atoms/cm2以下であることを特徴とするシリコンウェーハ。
IPC (2件):
H01L 21/02 ,  H01L 21/205
FI (3件):
H01L 21/02 B ,  H01L 21/02 D ,  H01L 21/205
引用特許:
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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