特許

J-GLOBAL ID：200903079298220246

電子装置の寿命診断方法及び装置

発明者： 佐々木 恵一
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 三好 秀和 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-298660
公開番号（公開出願番号）：特開2000-131363
出願日： 1998年10月20日
公開日（公表日）： 2000年05月12日
要約：

【要約】【課題】 本発明は、電子装置の機能を維持したまま非破壊で、その余寿命を容易に定量評価することを目的とする。【解決手段】 診断対象である電子装置を構成する電子化制御基板の全数を略均等枚数になるように複数のグループに分割し、この中から任意のグループを抽出して基板材料性能測定を行い、各グループにおける基板材料性能測定値の分布の極値統計をとることで診断対象内の全基板母数の基板材料性能値の極値を推定し、この推定値の時系列変化と基板材料性能値の限界値から電子化制御基板の余寿命を定量的に評価することを特徴とする。

請求項（抜粋）：

計器や制御装置を含む電子装置の寿命診断をする際に、診断対象である前記電子装置を構成する電子化制御基板の全数を各グループの枚数が略均等になるように複数のグループに分割し、分割した中から幾つかのグループを任意に抽出して基板材料性能測定を行い、各グループにおける基板材料性能測定値の分布の極値統計をとることで前記診断対象内における全基板母数の基板材料性能値の最小もしくは最大値を推定し、この推定値の時系列変化と前記基板材料性能値の所定の規格で定義される限界値とから電子化制御基板の余寿命を定量的に評価することを特徴とする電子装置の寿命診断方法。

IPC (2件)：

G01R 31/00 ,  H01G 13/00 361

FI (2件)：

G01R 31/00 ,  H01G 13/00 361 Z

Fターム (11件)：

2G036AA24 ,  2G036AA25 ,  2G036BA30 ,  2G036BA36 ,  2G036BB02 ,  2G036BB12 ,  2G036CA06 ,  2G036CA10 ,  5E082BC40 ,  5E082MM36 ,  5E082MM38

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 電子部品の絶縁信頼性寿命の評価方法及びその装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-169271   出願人：株式会社日立製作所, 日立化成工業株式会社