特許
J-GLOBAL ID：200903079300671587
材料試験装置における制御方法および材料試験装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高橋 英生 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-349987
公開番号（公開出願番号）：特開2001-165836
出願日： 1999年12月09日
公開日（公表日）： 2001年06月22日
要約：
【要約】【課 題】 繰り返し荷重の材料試験において、極力狙った位置でポーズさせることができる材料試験装置における制御方法および材料試験装置を提供する。【解決手段】 目標負荷信号発生手段(2)が、増減を繰り返している目標負荷信号(Ei)を荷重負荷装置(13)に出力し、この荷重負荷装置が材料試験片(14)に負荷を加え、この負荷をセンサ(21,41)で検出し、このセンサからの検出信号が目標負荷信号に追随するようにフィードバック制御している。そして、ポーズする際には、前もってポーズ用指令値が設定され、ついで、ポーズ指令が入力され、目標負荷信号が、ポーズ指令の入力直後のピークを通過した後においてポーズ用指令値に達した時に、目標負荷信号の出力値を固定してポーズ作動を行っている。
請求項（抜粋）：
目標負荷信号発生手段が、増減を繰り返している目標負荷信号を荷重負荷装置に出力し、この荷重負荷装置が材料試験片に負荷を加え、この負荷をセンサで検出し、このセンサからの検出信号が目標負荷信号に追随するようにフィードバック制御している材料試験装置における制御方法において、ポーズする際には、前もってポーズ用指令値が設定され、ついで、ポーズ指令信号が入力され、目標負荷信号が、ポーズ指令信号の入力直後のピークを通過した後においてポーズ用指令値に達した時に、目標負荷信号発生手段は目標負荷信号の出力値を固定してポーズ作動を行うことを特徴とする材料試験装置における制御方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (5件)：
2G061AB05
, 2G061DA12
, 2G061EA01
, 2G061EA02
, 2G061EA03
