特許
J-GLOBAL ID:200903079352374602
葉面積指数算出装置、葉面積指数算出方法及びそのプログラム
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (6件):
三好 秀和
, 岩▲崎▼ 幸邦
, 川又 澄雄
, 伊藤 正和
, 高橋 俊一
, 高松 俊雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-294820
公開番号(公開出願番号):特開2008-111725
出願日: 2006年10月30日
公開日(公表日): 2008年05月15日
要約:
【課題】航空レーザー計測を用いて葉面積指数を高精度に推定することができる葉面積指数算出方法を提供する。【解決手段】上空から地上へレーザーを照射し、地上で反射したレーザーの反射強度データを記憶する手順と、地盤の反射率を記憶する手順と、記憶した反射強度データから、樹木の樹冠で反射したレーザーの反射強度を抽出する手順(S13)と、記憶した反射強度データから、樹冠を通過して地盤で反射したレーザーの反射強度を抽出する手順(S14)と、記憶した反射強度データ及び反射率に基づいて、樹冠に到達する直前のレーザーの入射強度を算出する手順(S12)と、樹冠に到達する直前のレーザーの入射強度、樹冠を通過したレーザーの反射強度、及び樹冠で反射したレーザーの反射強度を用いて、樹木の葉面積指数を算出する手順(S15)とを含む。【選択図】 図8
請求項(抜粋):
上空から地上へレーザーを照射し、前記地上で反射した前記レーザーの反射強度データを記憶するステップと、
地盤の反射率を記憶するステップと、
記憶した前記反射強度データから、樹木の樹冠で反射したレーザーの反射強度を抽出するステップと、
記憶した前記反射強度データから、前記樹冠を通過して地盤で反射したレーザーの反射強度を抽出するステップと、
記憶した前記反射強度データ及び反射率に基づいて、前記樹冠に到達する直前のレーザーの入射強度を算出するステップと、
記憶した前記反射強度データから、地盤で反射したレーザーの反射強度を抽出するステップと、
前記樹冠に到達する直前のレーザーの入射強度、前記樹冠を通過したレーザーの反射強度、前記樹冠で反射したレーザーの反射強度、及び前記地盤で反射したレーザーの反射強度を用いて、前記樹木の葉面積指数を算出するステップ
とを含むことを特徴とする葉面積指数算出方法。
IPC (5件):
G01N 21/47
, G06T 1/00
, A01G 7/00
, A01G 23/00
, G01V 8/12
FI (5件):
G01N21/47 Z
, G06T1/00 285
, A01G7/00 603
, A01G23/00 551Z
, G01V9/04 J
Fターム (21件):
2G059AA05
, 2G059BB20
, 2G059EE02
, 2G059GG01
, 2G059HH04
, 2G059MM01
, 2G059MM03
, 2G059MM04
, 2G059MM05
, 2G059MM09
, 2G059MM10
, 2G059PP04
, 5B057AA15
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057DA07
, 5B057DA13
, 5B057DB02
, 5B057DB09
, 5B057DC22
引用特許:
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