特許

J-GLOBAL ID：200903079387367374

容器内の充てん物の充てんレベルを高精度で決定する方法及び装置

発明者： ロベルト ララ ,  ローラント ミュラー ,  ミヒャエル ジンツ ,  ディートマール シュパンケ
出願人/特許権者： エンドレス ウント ハウザー ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング ウント コンパニー
代理人 (1件)： 矢野 敏雄 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-211644
公開番号（公開出願番号）：特開2001-056246
出願日： 2000年07月12日
公開日（公表日）： 2001年02月27日
要約：

【要約】【課題】 多経路伝播若しくは多モード伝播の発生に無関係に、容器内の高精度の充てんレベル測定を可能にする方法及び装置を提示する。【解決手段】 容器(2)内の充てん物(4)の充てんレベル(q)を高精度で決定する方法である。測定信号を充てん物(4)の表面(5)の方向に送信して、該表面(5)においてエコー信号として反射させ、反射したエコー信号の振幅値及び位相値の評価によって、容器(2)内の充てんレベル(q)を、パルス走行時間法で調べる。充てんレベル(q)を調べる際に、正規に充てん物(4)の表面(5)において反射したエコー信号とプラス又はマイナスに干渉する妨害信号に起因して生じる誤差を、補償する。

請求項（抜粋）：

容器内の充てん物の充てんレベルを高精度で決定する方法であって、測定信号を充てん物の表面の方向に送信して、該表面においてエコー信号として反射させ、反射したエコー信号の振幅値及び位相値の評価によって、容器内の充てんレベルを、パルス走行時間法で調べる形式のものにおいて、充てんレベル(q)を調べる際に、正規に充てん物(4)の表面(5)において反射したエコー信号とプラス又はマイナスに干渉する妨害信号に起因して生じる誤差を、補償することを特徴とする、容器内の充てん物の充てんレベルを高精度で決定する方法。