特許

J-GLOBAL ID：200903079424042995

蛍光又はルミネセンス放出の減衰を計測する一体型オプトエレクトロニクスシステム

発明者： ジュリー・フーケ ,  イアン・ハードキャッスル ,  ルネ・ヘルビング ,  アネット・シー・グロット ,  ジョン・ペトリラ
出願人/特許権者： アジレント・テクノロジーズ・インク
代理人 (1件)： 特許業務法人オカダ・フシミ・ヒラノ
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-361313
公開番号（公開出願番号）：特開2006-177943
出願日： 2005年12月15日
公開日（公表日）： 2006年07月06日
要約：

【課題】すべてのコンポーネントを同一のボックス内に収容したオプトエレクトロニクスシステムを提供する。【解決手段】 蛍光又はルミネセンスの放出の減衰を計測するための光電システムは、発光ダイオード、半導体レーザー、又はフラッシュチューブである光源(104)と、サンプルに向かって光源から光パルスを発生させ、該サンプルから蛍光又はルミネセンス放出を生じさせる少なくとも1つの回路(100,102)を有する第1の集積回路(130)と、該放出を検出するフォトダイオード(108)と、該検出した放出の減衰を分析することにより該サンプルに関する情報を求める検出分析システム(110,150)を有する第2の集積回路(132,170)と、光源、第1および第2の集積回路、及びフォトダイオードを収容する筐体(126)と、を備える。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

発光ダイオード、半導体レーザー、又はフラッシュチューブである光源(104)と、 サンプルに向かって前記光源から光パルスを発生させ、該サンプルから蛍光又はルミネセンス放出を生じさせる、集積回路(130)と、 前記放出を検出する検出器(108)と、 前記検出した放出の減衰を分析することにより、前記サンプルに関する情報を求める検出分析システム(110、150)と、 前記光源、前記集積回路、及び前記検出分析システムを収容する筐体(126)と、 を備える装置。

IPC (1件)：

G01N 21/64

FI (1件)：

G01N21/64 B

Fターム (10件)：

2G043EA01 ,  2G043FA03 ,  2G043GA08 ,  2G043GB21 ,  2G043HA01 ,  2G043JA03 ,  2G043JA04 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA02

引用特許：

審査官引用 (6件)

• 特開昭60-242344
  
• 特開昭62-223644
  
• 蛍光寿命測定装置および方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-401146   出願人：浜松ホトニクス株式会社
• 特開昭60-242344
  
• 特開昭62-223644
  
• 特開平1-187435