特許

J-GLOBAL ID：200903079470461420

品質データ表示方法

発明者： 津山 努 ,  原田 敏正 ,  下社 貞夫 ,  日向野 幸一 ,  伊津井 孝三
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 秋本 正実
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-219667
公開番号（公開出願番号）：特開平5-061877
出願日： 1991年08月30日
公開日（公表日）： 1993年03月12日
要約：

【要約】【目的】 製品の故障発生情報から、不良要因・故障発生傾向等を分析する際、分析結果を表す画面上に検索や分析の経緯を履歴として表示すること。【構成】 手続き1での設定検索条件に基づき検索された結果は原始データセット6としてコアメモリに書き込まれる。書き込まれたデータセットを対象として、手続き7で指定された解析法により解析が行われる。その際、手続き8で解析対象のパラメータが選択されるが、それらに基づき解析手続き9のデータ処理が行われるものである。解析手続き9では指定された解析法に従って数値演算を行い、演算結果は解析法に従った表示出力様式12により出力表示される。

請求項（抜粋）：

製品の故障に関して施した処理に関し、その日付、現象および処置等の故障発生に関する情報を現地より集め、データベースに蓄積し、その一部または全部を対象として、製品に関する不良の要因・故障発生の傾向等を分析する際、分析結果を表す画面上に検索や分析の経緯を履歴として表示することを特徴とする品質データ表示方法。

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭63-032650
  
• 特開昭63-040962