センサおよびこれを利用した測定装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：高橋明夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-136994
公開番号（公開出願番号）：特開平11-326193
出願日： 1998年05月19日
公開日（公表日）： 1999年11月26日
要約：

【要約】【課題】高感度なセンサ及び測定装置を提供する。【解決手段】金属表面に存在する金属微粒子の反射スペクトルが、周辺の誘電率に応じて敏感に変化する現象を利用する。【効果】高感度で、機械的な動作を必要としない簡素化されたセンサを構成できる。

請求項（抜粋）：

平坦な基板、該基板上にほぼ均一に配列された高分子または非金属の絶縁体微小球層よりなり、該絶縁体微小球の基板と反対側の外面のほぼ半分の面上に薄い自由電子金属微粒子層を備えることを特徴とするセンサ。

引用特許：

出願人引用 (4件)

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