特許

J-GLOBAL ID：200903079542546531

プリント基板検査用治具基板作製用情報生成方法および装置、プリント基板検査用治具基板並びにプリント基板検査方法

発明者： 春田 裕一 ,  楊井 啓吉
出願人/特許権者： ジェイエスアール株式会社
代理人 (1件)： 大井 正彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-034913
公開番号（公開出願番号）：特開2000-235057
出願日： 1999年02月12日
公開日（公表日）： 2000年08月29日
要約：

【要約】【課題】 被検査基板の被検査電極の複数に対応する共通電極を有する導通検査用の治具基板、または特定の被検査電極に対応する特定の検査用電極を有する絶縁検査用の治具基板を設計するための情報生成方法、装置、それによる治具基板および基板検査方法を提供すること。【解決手段】 本発明の方法では、(1)すべての被検査電極についての情報を利用して、被検査電極グループの少なくとも1つを形成するグループ化処理と、(2)一の被検査電極グループに対応する一の仮想の共通電極を形成する共通電極形成処理とが行われる。または、(1)被検査プリント基板の独立の配線ネット毎にただ1つの代表被検査電極を選定する処理と、(2)独立の配線ネット毎に、代表被検査電極とは異なる少なくとも1つのモニタ用被検査電極を選定する処理とが行われる。

請求項（抜粋）：

被検査プリント基板における複数の被検査電極の位置に対応する位置に検査用電極を備えてなり、検査用電極のうちの少なくとも1つは、2個以上の被検査電極により構成される被検査電極グループに対応する形状を有する共通検査用電極であり、この共通検査用電極は、検査のために被検査プリント基板と接触されたときに、被検査プリント基板に形成されている互いに独立の配線ネットが、当該共通検査電極を介して互いに電気的な閉回路を形成することがない状態に形成されているプリント基板検査用治具基板を作製するため、(1)被検査プリント基板上のすべての被検査電極についての幾何学的情報および相互の電気的接続情報を利用して、複数の被検査電極よりなる被検査電極グループの少なくとも1つを形成するグループ化処理と、(2)1つの被検査電極グループに属する被検査電極のすべてが電気的に接続された状態に対応する1つの仮想の共通電極を形成する共通電極形成処理と、を行うことにより、共通検査用電極に関する情報を生成することを特徴とするプリント基板検査用治具基板を作製するための情報を生成する方法。

IPC (3件)：

G01R 31/02 ,  G01R 1/073 ,  G01R 31/28

FI (3件)：

G01R 31/02 ,  G01R 1/073 F ,  G01R 31/28 S

Fターム (29件)：

2G011AA16 ,  2G011AA21 ,  2G011AB06 ,  2G011AB08 ,  2G011AC06 ,  2G011AC14 ,  2G011AE01 ,  2G014AA02 ,  2G014AA13 ,  2G014AA15 ,  2G014AB59 ,  2G014AC10 ,  2G032AA00 ,  2G032AF02 ,  2G032AF03 ,  2G032AL03 ,  9A001BB03 ,  9A001BB04 ,  9A001BB05 ,  9A001CC08 ,  9A001JJ46 ,  9A001JJ48 ,  9A001JJ50 ,  9A001JJ76 ,  9A001KK11 ,  9A001KK31 ,  9A001KK36 ,  9A001KK37 ,  9A001LL05