特許
J-GLOBAL ID：200903079553569380
画像照合方法および装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
杉浦 正知
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-033175
公開番号（公開出願番号）：特開平7-222175
出願日： 1994年02月04日
公開日（公表日）： 1995年08月18日
要約：
【要約】【目的】 ブロックマッチング法により動きベクトルを検出する時に、演算量を低減することができ、また、位相ずれに起因する誤検出のおそれを防止することができ、さらに、照合の精度を向上できる。【構成】 (3×3)画素の基準サブブロックの代表画素値xが代表値抽出回路7aで抽出される。同じ大きさの検査サブブロックの最大値,最小値がMAX,MIN検出回路8で検出される。比較回路9において、代表画素値xがMAXおよびMINの範囲内にあるかどうかが比較され、その比較結果に応じた評価値Δが評価値計算回路10で計算される。若し、xがMAXおよびMINの間に含まれる時には、Δが0とされる。基準サブブロックに関して剛体仮定を導入し、検査サブブロックの中で照合に使用される候補画素が選択回路17で選択される。検出された画素からなる検査ブロックに関してMAX,MINが検出される。サブブロック毎の評価値から総合評価値が形成され、この総合評価値に基づいて動きベクトルが検出される。
請求項（抜粋）：
第1の画像データを複数の基準ブロックへ分割し、上記基準ブロックをさらに複数の基準サブブロックへ分割するステップと、第2の画像データを複数の検査ブロックへ分割し、上記検査ブロックをさらに複数の検査サブブロックへ分割するステップと、上記基準サブブロックから第1の代表画素データをそれぞれ抽出するステップと、上記複数の基準サブブロックの第1の代表画素データ群を指示する第1の指示データと、上記複数の検査サブブロックの互いに対応する位置の画素群を指示する第2の指示データとをそれぞれ形成し、上記第1および第2の指示データを比較することによって、照合に使用する画素データを選択するステップと、上記検査サブブロックの選択された画素の存在範囲を示す特徴量データをそれぞれ抽出するステップと上記基準サブブロックから第2の代表画素データをそれぞれ抽出するステップと、上記第2の代表画素データと上記特徴量データとを比較することによって、サブブロック毎の評価値を生成し、上記サブブロック毎の評価値から総合評価値を生成し、上記総合評価値に基づいて上記第1および第2の画像データの部分的照合を行うステップとからなる画像照合方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H04N 7/137 Z
, G06F 15/70 410
