特許
J-GLOBAL ID:200903079559363848
集積回路
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
高矢 諭 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-294066
公開番号(公開出願番号):特開平6-148274
出願日: 1992年11月02日
公開日(公表日): 1994年05月27日
要約:
【要約】【目的】 テストに用いるキスャンレジスタに係るクロッスクキューの問題等を低減する。【構成】 第1種回路領域10には、所定の設計方法にて設計された第1種回路が作り込まれている。第2種回路領域22には、前記第1種回路とは異なる設計方法にて設計された第2種回路が作り込まれている。即ち、集積回路1には、異なる設計方法にて設計された回路が、領域分けされて作り込まれている。スキャンレジスタ40は、前記第1種回路領域10と前記第2種回路領域20との境界に設けられている。該スキャンレジスタ40には、テストに用いられる多数のスキャンレジスタが作り込まれている。該スキャンレジスタが一箇所に集められているので、クロックスキュー等の問題が少ない。又、利用頻度の高い箇所に配置されているので、有効に活用され、集積度の低下等の問題が少ない。
請求項(抜粋):
所定の設計方法にて設計された第1種回路と、これとは異なる設計方法にて設計された第2種回路とを1つに組み込んだ集積回路において、主として、前記第1種回路が作り込まれた第1種回路領域と、主として、前記第2種回路が作り込まれた第2種回路領域と、前記第1種回路領域と、前記第2種回路領域との境界に設けられたスキャンレジスタ領域とを備えたことを特徴とする集積回路。
IPC (4件):
G01R 31/28
, H01L 21/66
, H01L 21/82
, H01L 27/04
FI (2件):
G01R 31/28 G
, H01L 21/82 T
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