特許
J-GLOBAL ID：200903079583286218
X線コンピュータトモグラフィ装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山口 巖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-219124
公開番号（公開出願番号）：特開2002-078705
出願日： 2001年07月19日
公開日（公表日）： 2002年03月19日
要約：
【要約】【課題】 X線コンピュータトモグラフィ装置のビームハードニングを補正するための新しい解決策を提供する。【解決手段】検査すべき患者による直線的な放射減弱を代表する患者減弱値pを式p=g-f-k(αg+βf)に従って求める。ここにpは求めるべき各患者減弱値、fは各投影部分範囲内の放射フィルタ装置によるX線放射の理論的な直線的減弱を表すフィルタ減弱値そしてk(αg+βf)は個所z=αg+βfにおける変数zに関係する補正関数k(z)の値である。k(z)の値は、較正段階で特定の方法により算出する。
請求項（抜粋）：
X線コンピュ-タトモグラフィ装置であって、-X線放射器(10)と、-X線放射器(10)から送り出されるX線放射の放射経路内に配置された放射フィルタ装置(16)と、-検査すべき患者(14)を通過するX線放射を検出し、かつ患者(14)の各々の層投影に対して、層投影の各投影部分範囲内の検出されたX線放射の強度を各々代表する強度測定値の集合を与える検出器装置(18)と、-強度測定値の各々に対して、放射フィルタ装置(16)および患者(14)により生じる各投影部分範囲内のX線放射の、実際の全減弱を代表する全減弱値(g)を求め、かつ全減弱値(g)の各々に対し、各投影部分範囲内の患者(14)によるX線放射の理論的な直線的減弱を代表するビームハードニング補正された患者減弱値(p)を求める電子的な評価ユニット(22)とを含むX線コンピュータトモグラフィ装置において、評価ユニット(22)内に変数zに関係する補正関数k(z)についての情報が記憶されており、かつ評価ユニット(22)が各全減弱値(g)に対して各付属の患者減弱値(p)を下記の式 p=g-f-k(αg+βf) (1)に従って求めるべく構成されており、ここにpは各求めるべき患者減弱値、fは各投影部分範囲内の放射フィルタ装置(16)によるX線放射の理論的な直線的減弱を代表するフィルタ減弱値、k(αg+βf)は個所z=αg+βfにおける補正関数の値そしてαおよびβは定数であり、補正関数k(z)は下記の方法に従って求めることを特徴とする装置。a)最初に放射フィルタ装置(16)のフィルタ材料および参照材料の組み合わせに対し、少なくともビームハードニングを考慮に入れてフィルタ材料および参照材料の種々の厚みの際に、この材料組み合わせにより生ずるX線放射の全減弱を代表する参照全減弱値(g ́)の組を求め、b)次に各参照全減弱値(g ́)の対し付属の減弱誤り値(e)を下記の式 e(dw,de)=g ́(dw,de)-w(dw)-t(de) (2)に従って求め、ここにe(dw,de)は参照材料の厚みdwおよびフィルタ材料の厚みdeの際の減弱誤り値、g ́(dw,de)は参照材料の厚みdwおよびフィルタ材料の厚みdeの際の参照全減弱値、w(dw)は参照材料の厚みdwの際の参照材料によるX線放射の理論的な直線的な減弱を代表する第1の個別減弱値そしてt(de)はフィルタ材料の厚みdeの際のフィルタ材料に よるX線放射の理論的な直線的減弱を代表する第2の個別減弱値であり、c)続いて定数αおよびβを、変数xの値がx=αg ́(dw,de)+βt(de) (3)により一定の減弱誤りの線に対して横方向に減弱誤りの(g ́(dw,de),t(de))特性領域内で変化するように決定し、d)その後減弱誤り特性領域内におかれた参照曲線v(x)に沿っての減弱後の経過を代表する、変数xに関係した誤り関数u(x)に関する情報を求め、e)最後に補正関数k(z)を下記の式により求める。k(z)=u(x=z) (4)
IPC (2件)：
A61B 6/03 350
, A61B 6/03 320
A61B 6/03 350 J
, A61B 6/03 320 M
, A61B 6/03 350 F
4C093AA22
, 4C093BA03
, 4C093CA13
, 4C093EA11
, 4C093FC14
, 4C093FC16
, 4C093FC24
, 4C093GA01
