特許
J-GLOBAL ID：200903079644639321
肌の表面状態の解析システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
宇井 正一 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-161871
公開番号（公開出願番号）：特開平7-055447
出願日： 1993年06月30日
公開日（公表日）： 1995年03月03日
要約：
【要約】【目的】 肌の表面を撮影して画像解析の手法により肌の表面状態を解析するシステムに関し、肌の表面に存在する毛穴の大きさ(面積)を測定し、評価することの可能な肌の表面状態の解析システムを提供することを目的とする。【構成】 肌の表面を撮影した画像を平滑化し(ステップa,b)、平滑化前の画像を減算し(ステップc)、ログ変換を施した後(ステップd)、輝度を反転して(ステップe)、自動2値化を行ない(ステップf)、暗領域の総画素数を算出して、毛穴の状態を表わす指標とする。
請求項（抜粋）：
肌の表面を撮影した画像を出力する撮像手段と、該撮像手段が出力する画像を構成する各画素の輝度レベルを2次元的に平滑化する平滑化手段と、該平滑化した画像を構成する各画素の輝度レベルと平滑化前の画像の対応する画素の輝度レベルとの差を計算して差分画像を出力する差分計算手段と、該差分画像を2値化することによって毛穴の画像を得る第1の2値化手段とを具備することを特徴とする肌の表面状態の解析システム。
IPC (3件)：
G01B 11/30
, A61B 5/00
, A61B 5/103
