測量機

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：西脇民雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-171363
公開番号（公開出願番号）：特開2005-351711
出願日： 2004年06月09日
公開日（公表日）： 2005年12月22日
要約：

【課題】ノンプリズム測距、あるいは、ノンプリズム測距モード中に、移動障害物が測距光の投光光路を横切ったとしても、この移動障害物に起因する誤差が測距結果に含まれるのを回避することができるようにした測量機を提供する。【解決手段】本発明の測量機は、対物レンズ1が設けられて測距対象5に向けて測距光Pを照射する照射部3と、測距対象5から反射されかつ対物レンズ1を通して入射する反射光に基づき距離を単位時間当たりに複数回測定する測距部4と、対物レンズ1を通して測定対象5を視準する視準光学系部2とを備え、視準光学系部2には対物レンズ1を通して得られた視準画像を取得する画像処理手段21が設けられているものにおいて、画像処理手段21により得られた画像に基づき測距光Pの投光中に測距光Pの投光光路を移動障害物が通過した否かを判断する判断手段24が設けられている。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

対物レンズが設けられて測距対象に向けて測距光を照射する照射部と、測距対象から反射されかつ前記対物レンズを通して入射する反射光に基づき距離を単位時間当たりに複数回測定する測距部と、前記対物レンズを通して前記測定対象を視準する視準光学系部とを備え、該視準光学系部には前記対物レンズを通して得られた視準画像を取得する画像処理手段が設けられている測量機において、前記画像処理手段により得られた画像に基づき前記測距光の投光中に該測距光の投光光路を移動障害物が通過したか否かを判断する判断手段が設けられていることを特徴とする測量機。

IPC (1件)：

G01C3/06

FI (1件)：

G01C3/06 Z

Fターム (8件)：

2F112AD03 , 2F112BA16 , 2F112CA06 , 2F112DA19 , 2F112DA25 , 2F112FA03 , 2F112FA21 , 2F112FA35

引用特許：

出願人引用 (1件)

距離測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-134483 出願人：株式会社トプコン

審査官引用 (7件)

測量装置及び測量装置を用いて画像データを取得する方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2002-078862 出願人：株式会社トプコン
画像処理測距装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2001-292160 出願人：富士通テン株式会社
カメラ
公報種別：公開公報出願番号：特願2002-161515 出願人：キヤノン株式会社

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