特許

J-GLOBAL ID：200903079697131737

発光分光分析方法及びその装置

発明者： 杉原 孝志
出願人/特許権者： 川崎製鉄株式会社 ,  株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 小杉 佳男 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-174624
公開番号（公開出願番号）：特開平8-050097
出願日： 1994年07月26日
公開日（公表日）： 1996年02月20日
要約：

【要約】【目的】 分析精度が高く、各元素を定量する際の下限値を拡大することができる発光分光分析法を提供する。【構成】 試料36の面を分光器の採光軸Eとほぼ平行にして放電させることにより、試料自体の光や蒸気雲による影響を受けていないスペクトル線を分光器に採光し、スペクトル線のバックグラウンドの変動を小さくし、また、複数方向から採光を行うことにより、分析精度を高め、定量下限値を拡大することができる。

請求項（抜粋）：

試料と対電極との間で放電、発光させ、該発光を採光してその中に含まれる各成分元素の固有スペクトル線を分光し、各固有スペクトル線の波長と強度を測定する発光分光分析方法において、分光器の視野に上記試料の面が入らないように放電光を採光することを特徴とする発光分光分析方法。

IPC (2件)：

G01N 21/67 ,  G01J 3/443

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平1-274043
  
• 特開平3-135752
  
• 特開昭61-129555