電歪現象をもつ物体の内部欠陥検査方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：丸岡政彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-048278
公開番号（公開出願番号）：特開平9-218173
出願日： 1996年02月09日
公開日（公表日）： 1997年08月19日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】電歪の現象を有する材料を用いたコンデンサなどの物体について、内部欠陥を、破壊することなく、容易かつ確実、迅速に検査する、自動化測定可能な方法を提供する。【解決手段】本方法は、電場をかけたときに歪みが生じる物体に、直流バイアスを印加するためのステップと、この直流バイアスが印加されている前記物体のリアクタンスを、周波数を変化して測定するためのステップと、この測定された周波数対リアクタンスのデータを変換して、周波数対微分係数のデータを得るためのステップと、この変換された周波数対微分係数のデータと、前記ステップと同様にして予め変換された、内部欠陥の無い前記物体に関する周波数対微分係数のデータとを比較するためのステップと、これらデータの比較によって、前記測定された前記物体が、内部欠陥を有するか否かを検査するためのステップとを用いて行う。

請求項（抜粋）：

電場をかけたときに歪みが生じる物体に、直流バイアスを印加するためのステップと、この直流バイアスが印加されている前記物体のリアクタンスを、周波数を変化して測定するためのステップと、この測定された周波数対リアクタンスのデータと、前記ステップと同様にして予め測定された、内部欠陥の無い前記物体に関する周波数対リアクタンスのデータとを、比較するためのステップと、これらデータの比較によって、前記測定された前記物体が、内部欠陥を有するか否かを検査するためのステップと、を備えている電歪現象をもつ物体の内部欠陥検査方法。

前のページに戻る