特許

J-GLOBAL ID：200903079745249494

プログラムのテスト状態計測方式

発明者： 石井 敏郎
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 高田 守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-134878
公開番号（公開出願番号）：特開平5-324402
出願日： 1992年05月27日
公開日（公表日）： 1993年12月07日
要約：

【要約】【目的】 プログラムに修正を加えることなく、高速にプログラムのテスト・カバレッジであるC0及びC1カバレッジ率を計測し、あわせて履歴情報を提供することを目的とする。【構成】 本発明に係るプログラムのテスト・カバレッジ計測方式は、分岐情報解析部11により予めプログラムを解析したカバレッジ計測テーブル8を作成し、カバレッジ計測部7がこのプログラムの分岐情報にもとづいて実行回数測定行を減少させ、同時に分岐情報よりC1カバレッジ率を計測し、それを保存する履歴ファイル10を持つ。

請求項（抜粋）：

以下の要素を有するプログラムのテスト状態計測方式(a)複数の行から構成されるプログラムを編集して実行モジュールを作成するとともに、プログラムの各行と実行モジュールのアドレスとの対応を付属情報として生成する編集部、(b)プログラムの所定の行に記載されたプログラムの実行を制御する制御情報に基づいて、プログラムの各行が、他の行の実行にともない必然的に実行されるものか、選択的に実行されるものかを判定する制御情報解析部、(c)上記編集部により編集された実行モジュールを実行し、付属情報を用いて、上記制御情報解析部により選択的に実行される行と判定された行の実行回数をカウントすることによりテスト状態を計測するテスト状態計測部。