特許

J-GLOBAL ID：200903079758851320

センターライン検査装置

発明者： 大屋 隆生 ,  高見 昌夫
出願人/特許権者： 住友ゴム工業株式会社
代理人 (1件)： 中谷 武嗣
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-307141
公開番号（公開出願番号）：特開平10-132520
出願日： 1996年10月31日
公開日（公表日）： 1998年05月22日
要約：

【要約】【目的】 正確にかつ自動的に、帯状タイヤ部材に形成されたセンターラインを検査することができるセンターライン検査装置の提供にある。【構成】 帯状タイヤ部材1に形成されたセンターラインを検査するセンターライン検査装置である。帯状タイヤ部材1にその幅方向に沿って光を照射する光照射手段3と、センターラインを画像として捕らえるカメラ4と、カメラ4にて捕らえられた画像を2値化して光照射手段3によるマーカーの2つの端点を算出する第1算出手段と、センターライン塗布用ガン7の位置を算出する第2算出手段と、第1算出手段の算出値と第2算出手段の算出値とを比較演算してセンターラインのオフセンター量を演算する演算手段と、を備える。

請求項（抜粋）：

帯状タイヤ部材1に形成されたセンターライン2の位置を検査するセンターライン検査装置であって、上記帯状タイヤ部材1にその幅方向に沿った光を照射する光照射手段3と、上記センターライン2を画像として捕らえるカメラ4と、該カメラ4にて捕らえた画像を2値化して上記光照射手段3によるマーカーの2つの端点を算出する第1算出手段6と、センターライン塗布用ガン7の位置を算出する第2算出手段8と、上記第1算出手段6の算出値と該第2算出手段8の算出値とを比較演算してセンターライン2のオフセンター量を演算する演算手段9と、を備えたことを特徴とするセンターライン検査装置。

IPC (3件)：

G01B 11/00 ,  B29D 30/52 ,  G01B 11/02

FI (3件)：

G01B 11/00 H ,  B29D 30/52 ,  G01B 11/02 H