特許

J-GLOBAL ID：200903079850580775

光学式エンコーダ

発明者： 黒田 吉己 ,  山本 英二
出願人/特許権者： オリンパス光学工業株式会社
代理人 (1件)： 鈴江 武彦 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-359546
公開番号（公開出願番号）：特開2002-162258
出願日： 2000年11月27日
公開日（公表日）： 2002年06月07日
要約：

【要約】【課題】光学式エンコーダにおいて、スケールの基準点又は絶対位置を精度良く検出できるようにすること。【解決手段】第3の光検出器24を、スケール18の基準点又は絶対位置を検出する第2の光検出器22に近接した領域に、且つ、第2の可干渉光源12から出射された光ビーム16の周辺部が入射するように形成する。そして、光ビーム強度制御手段により、該第3の光検出器24で検出した第2の可干渉光源12からの光ビームの強度に基づいて、その第3の光検出器24への入射強度が一定となるように、第2の可干渉光源12に印加する電圧もしくは電流値を制御する。

請求項（抜粋）：

第1及び第2の可干渉光源と、前記第1及び第2の可干渉光源から出射された光ビームを横切るように移動し、且つ、前記光ビームを照射する所定周期の光学パターンを形成したスケールと、前記第1の可干渉光源から前記スケールの光学パターンを経由し回折干渉パターンを形成する光ビームを受光し、前記スケールの移動量を検出する複数の受光エリアを有する第1の光検出器と、前記第2の可干渉光源から前記スケールの光学パターンを経由し回折干渉パターンを形成する光ビームを受光し、前記スケールの基準点又は絶対位置を検出する第2の光検出器と、前記第2の光検出器に近接して配置され、前記第2の可干渉光源から前記スケールの光学パターンを経由した光ビームの強度を検出する第3の光検出器と、前記第3の光検出器で検出した光ビームの強度により、前記第2の可干渉光源から出射される光ビームの強度を制御する光ビーム強度制御手段と、を具備することを特徴とする光学式エンコーダ。

IPC (2件)：

G01D 5/38 ,  G01B 11/00

FI (3件)：

G01D 5/38 A ,  G01B 11/00 G ,  G01B 11/00 C

Fターム (33件)：

2F065AA02 ,  2F065AA07 ,  2F065AA09 ,  2F065BB02 ,  2F065BB15 ,  2F065DD04 ,  2F065EE03 ,  2F065FF19 ,  2F065FF48 ,  2F065FF51 ,  2F065GG06 ,  2F065HH13 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ15 ,  2F065MM02 ,  2F065NN02 ,  2F065UU05 ,  2F065UU07 ,  2F103BA28 ,  2F103CA01 ,  2F103CA02 ,  2F103CA04 ,  2F103CA08 ,  2F103DA04 ,  2F103EA06 ,  2F103EA15 ,  2F103EB02 ,  2F103EB08 ,  2F103EB15 ,  2F103EB16 ,  2F103EB32 ,  2F103EB33