特許

J-GLOBAL ID：200903079865628715

画像検出装置

発明者： 山本 清
出願人/特許権者： 旭光学工業株式会社
代理人 (1件)： 松浦 孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-217458
公開番号（公開出願番号）：特開2002-031517
出願日： 2000年07月18日
公開日（公表日）： 2002年01月31日
要約：

【要約】【課題】 共通の発光装置を用いて2次元画像と3次元画像を得る。【解決手段】 発光素子から出射された閃光(レ-ザ光)から第1または第2の投影パタ-ンP、Qを形成して、被計測物体Sの表面に投影する。第1の投影パタ-ンPは、レ-ザ光が照射されることによって形成される明部P1と、レ-ザ光が照射されない暗部P2とから成る。第2の投影パタ-ンQは、第1の投影パタ-ンPに対して相補的であり、第1の投影パタ-ンPの暗部P2に対応した部位に形成された明部Q1と、第1の投影パタ-ンPの明部P1に対応して部位に形成された暗部Q2とから成る。被計測物体において反射した光をCCDによって検出する。第1の投影パタ-ンPによって得られた画像デ-タと第2の投影パタ-ンQによって得られた画像デ-タとから2次元画像を検出する。また第1または第2の投影パタ-ンによって得られた画像デ-タから、パタ-ン投影法によって3次元画像を検出する。

請求項（抜粋）：

閃光を出射する光源と、前記閃光から第1の投影パターンを形成して被計測物体に導く第1の投影パターン形成手段と、前記第1の投影パターンに対して相補的な第2の投影パターンを、前記閃光から形成して前記被計測物体に導く第2の投影パターン形成手段と、前記第1または第2の投影パターンによって前記被計測物体において生じた反射光を検出することにより、前記被計測物体の表面の各点までの距離を検出する3次元画像検出手段と、前記第1および第2の投影パターンによって前記被計測物体において生じた反射光を検出することにより、前記被計測物体の2次元画像を得る2次元画像取得手段とを備えることを特徴とする画像検出装置。

IPC (8件)：

G01B 11/24 ,  G01B 11/25 ,  G02B 7/36 ,  G03B 11/00 ,  G03B 15/00 ,  G06T 1/00 400 ,  H04N 5/225 ,  H04N 13/02

FI (8件)：

G03B 11/00 ,  G03B 15/00 K ,  G06T 1/00 400 Z ,  H04N 5/225 Z ,  H04N 13/02 ,  G01B 11/24 K ,  G01B 11/24 E ,  G02B 7/11 D

Fターム (38件)：

2F065AA06 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065GG04 ,  2F065GG08 ,  2F065HH05 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL21 ,  2F065LL30 ,  2F065LL53 ,  2F065NN00 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ31 ,  2F065SS02 ,  2F065SS13 ,  2H051AA00 ,  2H051BA72 ,  2H051BB29 ,  2H051CC05 ,  2H083AA15 ,  2H083AA52 ,  5B047AA07 ,  5B047BA03 ,  5B047BB04 ,  5B047BC07 ,  5B047BC11 ,  5B047CA17 ,  5B047CB11 ,  5B047CB16 ,  5B047CB21 ,  5C022AA13 ,  5C022AB15 ,  5C022AC42 ,  5C061AB06

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 画像認識装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-134256   出願人：村田機械株式会社
• 動的形状解析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-114825   出願人：アニマ株式会社