特許

J-GLOBAL ID：200903079902879944

インキ転移物の断面観察法

発明者： 内村 浩美 ,  尾崎 靖
出願人/特許権者： 大蔵省印刷局長
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-348011
公開番号（公開出願番号）：特開2000-171420
出願日： 1998年12月08日
公開日（公表日）： 2000年06月23日
要約：

【要約】【課題】 紙に印刷された印刷物や、ボールペンやマジックなどを用いて筆記された筆記物に転移したインキ等の転移及び浸透状態を、集束イオンビーム装置等により断面を作製し、該断面を電子顕微鏡或いはエレクトロンプローブマイクロアナライザーにより観察する。【解決手段】 紙に転移したインキ転移物における、インキのバインダー成分の転移及び浸透状態を観察する方法であって、前記バインダーの不飽和二重結合部分に、四酸化オスミウム又は臭素を選択的に付加反応させ、次に集束イオンビーム装置によりイオンビームを照射することにより、任意のインキ転移部位の断面を紙等の構造を破壊することなく作製し、前記付加反応させたバインダーを含んだインキ転移物の断面に電子線を照射し、発生する信号を走査型電子顕微鏡で観察する、又は、エレクトロンプローブマイクロアナライザーにより、それぞれの元素のマッピングを行う。

請求項（抜粋）：

用紙に転移したインキ転移物における、インキのバインダー成分の転移及び浸透状態を観察する方法であって、前記バインダーの不飽和二重結合部分に、四酸化オスミウム又は臭素を選択的に付加反応させ、次に任意のインキ転移部位の断面を紙等の構造を破壊することなく作製し、前記付加反応させたバインダーを含んだインキ転移物の断面に電子線を照射し、発生する信号をエレクトロンプローブマイクロアナライザーにより、それぞれの元素のマッピングを行うことを特徴とするインキ転移物の断面観察法。

IPC (4件)：

G01N 23/225 ,  B41F 33/14 ,  B41M 1/00 ,  H01J 37/256

FI (4件)：

G01N 23/225 ,  B41M 1/00 ,  H01J 37/256 ,  B41F 33/14 G

Fターム (25件)：

2C250EB37 ,  2G001AA03 ,  2G001AA09 ,  2G001BA05 ,  2G001BA07 ,  2G001CA01 ,  2G001EA02 ,  2G001EA03 ,  2G001GA06 ,  2G001HA13 ,  2G001KA01 ,  2G001LA05 ,  2G001NA15 ,  2G001RA02 ,  2G001RA04 ,  2G001RA08 ,  2G001RA20 ,  2H113AA06 ,  2H113BB02 ,  2H113BB22 ,  2H113BC10 ,  2H113DA07 ,  2H113DA43 ,  2H113DA48 ,  2H113FA56

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 紙基材熱硬化性樹脂積層板の評価方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-164885   出願人：日本製紙株式会社

審査官引用 (1件)

• 紙基材熱硬化性樹脂積層板の評価方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-164885   出願人：日本製紙株式会社