特許
J-GLOBAL ID：200903079920985131
吸収・散乱光測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
岩橋 祐司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-103735
公開番号（公開出願番号）：特開平5-307001
出願日： 1991年04月09日
公開日（公表日）： 1993年11月19日
要約：
【要約】【構成】 本発明にかかる吸収・散乱光測定装置は、レーザー光源52及び吸光度測定用光源72より出光される光を合成する合成手段78と、該合成手段78により合成された光が通過可能なセル56と、透過レーザー光、透過吸光度測定用光、散乱光をそれぞれ分離する分離手段84を備えることを特徴とする。そして、前述したように散乱光強度測定用のレーザー光と、吸光度測定用の光とを合成手段により同一光路上に配置し、同一のセルを用いて散乱光強度、及び吸光度を測定する。【効果】 このように、本発明によれば、一のセルを用いて分子量測定が可能となったので、クロマトグラムの広がり、時間差を生じることがなく、しかもセルの破損、液漏れ等を生じることもない。
請求項（抜粋）：
レーザー光を出光するレーザー光源と、吸光度測定用の光を出光する吸光度測定用光源と、前記各光源より出光された光を合成する合成手段と、前記合成手段により合成された光が通過するセルと、前記セルを通過した光から、透過レーザー光、レーザー光による散乱光、吸光度測定用光を分離する分離手段と、前記散乱光を検出する散乱光検出手段と、前記セルを透過した吸光度測定用光を検出する吸光度検出手段と、を備えたことを特徴とする吸収・散乱光測定装置。
IPC (3件)：
G01N 21/49
, G01N 21/27
, G01N 30/74
