特許
J-GLOBAL ID：200903079966816679
液晶表示装置の検査方法および検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高橋 敬四郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-066795
公開番号（公開出願番号）：特開平9-257729
出願日： 1996年03月22日
公開日（公表日）： 1997年10月03日
要約：
【要約】【課題】 本発明は、高価で大掛かりな装置類を必要とせず、比較的簡便な構成で正確に簡単に液晶表示装置の評価検査を行う方法と装置を提供することを目的とする。【解決手段】 液晶表示装置の評価検査方法によれば、液晶相状態で液晶を注入した液晶表示装置を加熱し、前記液晶表示装置の液晶が再配向する最小温度を測定し、測定した前記最小温度に基づき前記液晶表示装置の特性を評価する。本発明による液晶表示装置の検査装置は、液晶相状態で液晶を注入した液晶表示装置を加熱する手段と、前記液晶表示装置の液晶が再配向する最小温度を測定する手段とを有する。
請求項（抜粋）：
液晶相状態で液晶を注入した液晶表示装置を加熱する工程と、前記液晶表示装置の液晶が再配向する最小温度を測定する工程と、測定した前記最小温度に基づき前記液晶表示装置の特性を評価する工程とを有する液晶表示装置の評価検査方法。
IPC (4件)：
G01N 25/02
, G01M 11/00
, G01N 25/04
, G02F 1/1337
G01N 25/02 Z
, G01M 11/00 T
, G01N 25/04 D
, G02F 1/1337
