特許
J-GLOBAL ID：200903080117711985
サーモグラフィによる製品検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
阿部 龍吉 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-087880
公開番号（公開出願番号）：特開平10-278910
出願日： 1997年04月07日
公開日（公表日）： 1998年10月20日
要約：
【要約】【課題】 高温領域と低温領域の温度分布を持つ加熱シール製品の不良検出精度を高める。【解決手段】 製品の搬送方向と直交する方向を走査ラインとして製品の温度を検出する赤外線カメラ12と、複数の異常温度レベルの判定値18と不良品の判定値20とを有すると共に、前記搬送方向に一定の測定範囲で前記赤外線カメラの検出信号を取り込み、該検出信号tm を前記異常温度レベルの判定値18と比較して異常温度レベルの信号を計数し、該計数値19を前記不良品の判定値20と比較することにより、不良品の判定を行う検査処理手段14〜17とを備え、包装加熱シールされた製品を赤外線カメラ12により検査する。
請求項（抜粋）：
包装加熱シールされた製品を赤外線カメラにより検査するサーモグラフィによる製品検査装置において、製品の搬送方向と直交する方向を走査ラインとして製品の温度を検出する赤外線カメラと、複数の異常温度レベルの判定値と不良品の判定値とを有すると共に、前記搬送方向に一定の測定範囲で前記赤外線カメラの検出信号を取り込み、該検出信号を前記異常温度レベルの判定値と比較して異常温度レベルの信号を計数し、該計数値を前記不良品の判定値と比較することにより、不良品の判定を行う検査処理手段とを備えたことを特徴とするサーモグラフィによる製品検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
B65B 57/02 F
, G01N 21/84 Z
