特許

J-GLOBAL ID：200903080145112477

イオントラップ型質量分析計

発明者： 西田 哲也
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-273273
公開番号（公開出願番号）：特開平10-125278
出願日： 1996年10月16日
公開日（公表日）： 1998年05月15日
要約：

【要約】【課題】イオントラップ型質量分析計ではトラップ場に印加した信号をスキャンするスピードによって、得られるマススペクトルの感度が変化するため、予備スキャンで高速スキャンすると、正確なイオン導入時間を計算出来ない。【解決手段】予備スキャンで、注目するピークの近くの質量数範囲のみに限定してスキャンする。

請求項（抜粋）：

試料をイオン化するイオン化手段と、イオンをトラップ場に導く導入手段と、上記イオンをトラップするためのトラップ場と、上記トラップ場にトラップされた上記イオンを排出する手段と、上記トラップ場から排出されたイオン量を検出する手段を持つイオントラップ型質量分析計において、複数段階の質量分析を行う測定装置において、測定時のイオン導入時間を適切に求めるための手段を有することを特徴とするイオントラップ型質量分析計。