特許

J-GLOBAL ID：200903080171610132

管内面のスケール厚さ測定装置および方法

発明者： 若松 良彦 ,  佐々木 宏二 ,  江刺 弘之
出願人/特許権者： 三菱重工業株式会社
代理人 (1件)： 鈴江 武彦 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-125836
公開番号（公開出願番号）：特開平9-304041
出願日： 1996年05月21日
公開日（公表日）： 1997年11月28日
要約：

【要約】【課題】本発明は、ボイラの管内周に付着しているスケールの厚さが最も厚い部分を見つけだすことが出来る装置を提供することを目的とする。【解決手段】ボイラの管表面に接触して超音波の送信と受信を行う垂直探触子1と、管外形に合ったV型ブロック2と、超音波発生装置9と、反射エコーの周波数分析器10と、演算器11を具備し、V型ブロック2を取り付けた垂直探触子1を管3に垂直に接触させ、超音波発生装置9により発せられた送信エコー5が、管内周とその管内周に付着しているスケール4との境界で反射した境界エコー6と、スケール4の内周で反射した底面エコー7とを分離して、垂直探触子1の受信側で受信し、反射して戻ってきたそれぞれのエコーを、周波数分析器10により分析し、境界エコー6と、底面エコー7のエコー高さを求め、鋼中およびスケール中音速から、演算器11により、スケール厚さを求めることを特徴とする。

請求項（抜粋）：

ボイラの管内面に付着したスケールの厚さを測定する装置において、(A)ボイラの管表面に接触して超音波の送信と受信を行う垂直探触子(1)と、(B)測定する管外形に合ったV型ブロック(2)と、(C)超音波発生装置(9)と、(D)反射エコーの周波数分析器(10)と、(E)スケールの厚さを求める演算器(11)を具備し、(F)前記V型ブロック(2)を取り付けた垂直探触子(1)を管(3)に垂直に接触させ、(G)前記超音波発生装置(9)により発せられた送信エコー(5)が、管内周とその管内周に付着しているスケール(4)との境界で反射した境界エコー(Iエコー)(6)と、スケール(4)の内周で反射した底面エコー(Bエコー)(7)とを分離して、垂直探触子(1)の受信側で受信し、(H)前記反射して戻ってきたそれぞれのエコーを、周波数分析器(10)により分析し、境界エコー(Iエコー)(6)と、底面エコー(Bエコー)(7)のエコー高さを求め、鋼中およびスケール中音速から、演算器(11)により、スケール厚さを求めることを特徴とする管内面のスケール厚さ測定装置。

IPC (2件)：

G01B 17/02 ,  G01N 29/10 502

FI (2件)：

G01B 17/02 B ,  G01N 29/10 502