特許

J-GLOBAL ID：200903080296342075

命令性能測定方式

発明者： 武田 俊行 ,  染谷 哲
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所 ,  株式会社日立インフォメーションテクノロジー
代理人 (1件)： 笹岡 茂 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-159146
公開番号（公開出願番号）：特開平10-333945
出願日： 1997年06月02日
公開日（公表日）： 1998年12月18日
要約：

【要約】【課題】 性能測定プログラム開発者の負担を軽減し、更に、測定後の測定結果値の解析作業並びに不良時の原因究明作業を容易にすることにある。【解決手段】 被測定命令列を生成し(51)、被測定命令の性能測定をし(52)、性能測定実測値と被測定命令対応に予め定められた期待値との差が許容範囲外にあるとき異常と判定し(54)、原因追及モードにないとき(56)、異常値解析、すなわち、被測定命令における異常の要因を推定し(57)、推定した要因に基づき被測定命令中のオペランドであるレジスタ番号を変更し、あるいは記憶装置のアドレスをプラス方向もしくはマイナス方向に予め定められた距離だけ変更し(59)、ステップ(51)に再度性能測定を行う。測定結果判定が正常の場合、あるいは全ての要因についての処理が終了した場合に、測定結果を出力する(55)。この場合、異常と判定された被測定命令の性能測定結果にマークを付ける。

請求項（抜粋）：

命令性能を測定する命令性能測定方式において、被測定命令の性能測定をする性能測定手段と、性能測定の結果を判定する判定手段と、判定の結果が異常を示すとき前記被測定命令における異常の要因を推定する手段と、該推定した要因に基づき前記被測定命令中のオペランドを変更する変更手段と、前記性能測定手段の測定結果を出力する手段を備え、オペランドの変更された被測定命令を再度性能測定し、結果の判定をし、異常があるとき、再度異常の要因を推定し、被測定命令中のオペランドの変更をすることを特徴とする命令性能測定方式。

IPC (2件)：

G06F 11/34 ,  G06F 11/22 310

FI (2件)：

G06F 11/34 S ,  G06F 11/22 310 L