テストサンプル中の分子事象を検出・同定(識別)するためのシステムおよび方法

発明者： , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：石田敬 (外4名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-530570
公開番号（公開出願番号）：特表2003-535310
出願日： 2000年10月13日
公開日（公表日）： 2003年11月25日
要約：

【要約】テストサンプル中の分子事象の存在または不存在を検出するための分子検出システムが、流体リザーバと、信号源と、測定プローブと、信号検出器とを有している。測定プローブはプローブヘッドと接続端部とを有している。プローブヘッドは、流体リザーバの検出領域内でテストサンプルに入射テスト信号を電磁的にカップリングするように形成されている。入射テスト信号とテストサンプルとの相互作用は、変調されたテスト信号を生成する。この変調テスト信号の少なくとも一部を回収するように、プローブヘッドが形成されている。システムはさらに、信号検出器を有している。信号検出器は、測定プローブの接続端部にカップリングされていて、変調テスト信号を回収するように形成されている。

請求項（抜粋）：

テストサンプル中の分子事象を検出するための分子検出システムであって、 (1)該システムが流体リザーバを有しており、該流体リザーバが1.0mL未満の容積を備えた検出領域を有しており; (2)前記システムが、10MHz超、1000GHz未満の周波数で電磁的な入射テスト信号を伝送するように動作可能な信号源を有しており; (3)前記システムが測定プローブを有しており、 (a)該測定プローブがプローブヘッドを有しており、該プローブヘッドが: (i)信号源にカップリングされた導波路、または (ii)伝送線路、アース面、および伝送線路とアース面との間に間挿された誘電層を備えており、伝送ラインが信号源にカップリングされており; 前記プローブヘッドが、入射テスト信号を、検出領域内のテストサンプルに電磁的にカップリングするように形成されており、入射テスト信号とテストサンプルとの相互作用が、変調されたテスト信号を生成するようになっており、プローブヘッドがさらに、変調されたテスト信号の一部を回収するように形成されており;さらに、 (b)前記測定プローブが接続端部を有しており;さらに、 (4)前記システムが、測定プローブの接続端部にカップリングされた信号検出器を有しており、該信号検出器が、変調されたテスト信号を回収するように形成されていることを特徴とする、テストサンプル中の分子事象を検出するための分子検出システム。

IPC (3件)：

G01N 35/08 , G01N 22/00 , G01N 37/00 101

FI (3件)：

G01N 35/08 A , G01N 22/00 Y , G01N 37/00 101

Fターム (5件)：

2G058AA09 , 2G058DA07 , 2G058EB00 , 2G058GA01 , 2G058HA00

引用特許：

審査官引用 (8件)

マイクロ波分光学により分析される微粒子標識結合試験法
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-173637 出願人：マイルス・インコーポレーテツド
分散状態測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-357564 出願人：三菱重工業株式会社
特表平7-508831

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