特許
J-GLOBAL ID:200903080345748414
比明度関数の決定によるサンプルの分析方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
塩澤 寿夫 (外2名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-518005
公開番号(公開出願番号):特表2001-502062
出願日: 1997年10月11日
公開日(公表日): 2001年02月13日
要約:
【要約】少なくとも1つの測定体積内のユニットにより放出、散乱及び/又は反射された放射のゆらぎ強度をモニターすることによりユニットを有するサンプルを特徴付ける方法であって、モニターが少なくとも1つの検出手段により行われ、下記の段階、c) 所定の長さの時間間隔当たりの光子カウント数を反復モードにおいて測定し、b) 前記時間間隔当たりの光子カウント数関数を決定し、d) 前記光子カウント数関数に基づき、前記ユニットの比明度関数を決定することを含む方法。
請求項(抜粋):
少なくとも1つの測定体積中のユニットにより放出、散乱及び/又は反射 された放射のゆらぎ強度のモニターにより、ユニットを有するサンプルの 特徴づけをする方法であって、モニターが少なくとも1つの検出手段によ り行われ、以下の段階 a) 所定長さの時間間隔当たりの光子カウント数を反復モードにおいて測 定し、 b) 前記時間間隔当たりの光子カウント数関数を決定し、 c) 前記光子カウント数関数に基づき、前記ユニットの比明度関数を決定 すること を含む方法。
IPC (3件):
G01N 15/00
, G01N 21/64
, G01N 33/483
FI (4件):
G01N 15/00 A
, G01N 21/64 Z
, G01N 21/64 F
, G01N 33/483 C
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