特許

J-GLOBAL ID：200903080358485080

自動化した画像品質制御

発明者： レイタン,ロナルド シー.
出願人/特許権者： ミネソタ マイニング アンド マニュファクチャリング カンパニー
代理人 (1件)： 石田 敬 (外3名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-529650
公開番号（公開出願番号）：特表平10-506504
出願日： 1995年04月21日
公開日（公表日）： 1998年06月23日
要約：

【要約】電子デジタル画像システムの機能的構成部分を試験するためのシステム、装置及び方法が記載される。システムは画像取得、記憶、ディスプレイ、通信及び印刷用の装置を具備する。システムは閉ループ分析を信頼してシステム構成部分を試験するためにセットの統計的な画像品質計量を測定する。期待したセットの統計は期待した基準対象を表すデータセットとして記憶される特定の目的特徴の形になる。閉ループ分析は、例えば、システムの印刷用構成部分の品質を測定するために期待した基準画像の複写を出力し、取得構成部分を使用して除外した基準画像の複写を入力し且つ統計を理想的に動作する構成部分を表す閾値に対して比較する。統計の閾値に対する比較は構成部分の性能のゴー/ノーゴーの尺度を与え且つシステムデグラデーションのソースを表示することが可能になる。画像品質計量は包括的なセットの試験:ピクセル値一貫性、ピクセル位置一貫性(幾何学的歪み)及び空間分解能を画像品質デグラデーションの一次モードに関し含む計量セットとして既知である。計量セットは多数の画像品質測定の自動的実行と処理しやすい結果に対する結果としてのテストデータの減少を考慮することにより簡単なゴー/ノーゴー結果をシステムオペレータに与える。なお、計量セットはシステム欠陥を野外サービス者に対する分析データに基づいて表示し且つ位置決めするのに使用可能である。

請求項（抜粋）：

電子デジタル画像システムの機能的構成部分の性能を自動的に測定する方法において、 計量閾を既知の良いシステムの構成部分に対し記憶し; サンプル画像を基準対象から取得して基準対象を表すセットのピクセルデータを生成し; 選択した特質をセットのピクセルデータから測定し且つセットの特徴統計を生成し; セットの特徴統計を計量閾に対して比較し; 任意の1つのセットの特徴統計が任意の1つの計量閾以下になるかを表示するステップを具備する方法。

IPC (6件)：

H04N 1/00 106 ,  A61B 6/00 ,  G06F 3/14 310 ,  G06F 19/00 ,  G06T 1/00 ,  H04N 1/40

FI (6件)：

H04N 1/00 106 C ,  G06F 3/14 310 A ,  H04N 1/40 101 Z ,  G06F 15/62 390 A ,  G06F 15/42 Z ,  A61B 6/00 350 Z