特許
J-GLOBAL ID：200903080388315996
質量分析装置の調整方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-222230
公開番号（公開出願番号）：特開平11-064282
出願日： 1997年08月19日
公開日（公表日）： 1999年03月05日
要約：
【要約】 (修正有)【課題】 液体クロマトグラフ/質量分析計、キャピラリー電気泳動/質量分析計、プラズマ/質量分析計において、イオントラップ質量分析部内部の真空度が十分に良くなるまで、装置の調整が開始できず、効率的な装置搬入ができないという欠点があった。【解決手段】 装置パラメータを、イオントラップ質量分析部内部の真空度が十分に良くなるまで実行できないものとそうでないものに分けて、真空が立ち上がるまでは、真空によらないパラメータの調整を行なう。【効果】 装置の搬入に伴う立ち上げ時間が短くなる。
請求項（抜粋）：
大気圧下でイオンを生成するイオン源と、該イオン源から生成したイオンを高真空領域に取り込むための差動排気部と、該差動排気部を通過して高真空領域に取り込まれたイオンを引き出して収束する収束レンズ部と、該収束レンズ部で収束されたイオンを一対のエンドキャップ電極とリング電極、および両者を絶縁するための絶縁リングからなるイオントラップ質量分析計により質量分析する質量分析部からなるイオントラップ質量分析装置において、エンドキャップ電極とリング電極に接地電圧、あるいは直流電圧を印加することによって、前記イオン源で生成したイオンの全イオン電流量を計測して調整を行なう方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 27/62 B
, H01J 49/42
