特許

J-GLOBAL ID：200903080423035756

多重路分光において電磁波強度の減衰を測定するための装置及び方法

発明者： スミス,アラン ジョセフ
出願人/特許権者： シマヅ リサーチ ラボラトリー(ヨーロッパ)リミティド
代理人 (1件)： 石田 敬 (外4名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-614017
公開番号（公開出願番号）：特表2002-543380
出願日： 2000年04月14日
公開日（公表日）： 2002年12月17日
要約：

【要約】試料による電磁波の吸収に起因する電磁波吸収試料(62)を通過する電磁波強度の減衰を測定する装置であって、試料の吸収帯内の波長を有する電磁波源(64)と、試料を通過する所定の光路に沿って相互に離間した複数の部分的反射面(S0,S1,S2・・・)とを備える装置。各反射面は入射電磁波を、所定の光路に従う反射成分と、非反射成分とに分離する。減衰値は、所定の光路に沿う、異なる位置での非反射成分の強度測定から導かれる。

請求項（抜粋）：

試料の電磁波吸収に起因する電磁波吸収試料を通過する電磁波強度の減衰を測定する装置であって、試料の吸収帯内の波長を有する電磁波源と、試料を通過する所定の光路に沿って相互に離間して連続する位置において前記電磁波を部分的に反射する部分反射手段であって、前記連続する各位置において、前記部分的に反射する手段によって前記所定の光路に従わせられる反射成分と、非反射成分とに入射電磁波を分離する前記部分反射手段と、 前記所定の光路に沿う複数の異なる前記位置において生じる電磁波の非反射成分の強度の測定から前記減衰の値を導く導出手段とを備える装置。

IPC (3件)：

G01N 21/35 ,  G01J 3/42 ,  G01N 21/03

FI (3件)：

G01N 21/35 Z ,  G01J 3/42 U ,  G01N 21/03 B

Fターム (27件)：

2G020AA03 ,  2G020BA02 ,  2G020CA02 ,  2G020CB07 ,  2G020CB23 ,  2G020CB42 ,  2G020CD13 ,  2G020CD22 ,  2G057AA01 ,  2G057AB02 ,  2G057AB07 ,  2G057AC03 ,  2G057BA01 ,  2G057DA13 ,  2G059AA01 ,  2G059BB01 ,  2G059EE01 ,  2G059EE12 ,  2G059GG01 ,  2G059GG08 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ13 ,  2G059KK01 ,  2G059LL03 ,  2G059MM01