特許

J-GLOBAL ID：200903080429844834

電子部品の位置ずれ検査方法

発明者： 福永 文昭 ,  須藤 芳数 ,  門野 清
出願人/特許権者： ダイハツ工業株式会社
代理人 (1件)： 江原 省吾 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-264277
公開番号（公開出願番号）：特開平9-106459
出願日： 1995年10月12日
公開日（公表日）： 1997年04月22日
要約：

【要約】【課題】 電子部品の位置ずれ検査において、画像処理方式の場合、しきい値の誤差を広く見込むと、微小の位置ずれは、しきい値の誤差内に入って判定出来ず、又、しきい値の誤差を狭く見込むと、照明条件等が加わって誤判定してしまうため、検査精度に限界がある。三次元計測方式の場合、走査部機構が複雑であるため、コストが高くなり、且つ、走査時間が長くなって検査時間が長くなる。三角測距方式の場合、配線基板の導電パターンが半田メッキであれば、レーザ光を乱反射してしまい、電子部品のエッジ部分を誤検出して誤判定する。【解決手段】 配線基板1上に位置決め固定した電子部品3をカラー撮像し、カラー撮像画像から検査に係る形と色を抽出する工程と、上記色抽出画像を画像処理して画像特徴量を計測し、その計測データの正常データに対する確信度をファジィ推論により判別して電子部品3の位置ずれを検査する工程とを含む。

請求項（抜粋）：

配線基板上に位置決め固定した電子部品をカラー撮像し、カラー撮像画像から検査に係る形と色を抽出する工程と、上記色抽出画像を画像処理して画像特徴量を計測し、その計測データの正常データに対する確信度をファジィ推論により判別して電子部品の位置ずれを検査する工程とを含むことを特徴とする電子部品の位置ずれ検査方法。

IPC (2件)：

G06T 7/00 ,  H05K 13/08

FI (2件)：

G06F 15/62 405 B ,  H05K 13/08 B

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭63-113680
  
• 特開昭62-261005
  
• 特開平4-315907
  
• 特開平4-171587