特許
J-GLOBAL ID：200903080509335361
3次元位置測定装置及び3次元位置測定結果補正方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高田 守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-300980
公開番号（公開出願番号）：特開平6-147830
出願日： 1992年11月11日
公開日（公表日）： 1994年05月27日
要約：
【要約】【目的】 操作性が良く、測定時間が短縮できる3次元位置測定装置を得る。さらには精度の良い測定が可能となる3次元位置測定装置、及びより精度の高い測定結果が得られる補正方法を提供する。【構成】 測定点を指示する指示点6とこの指示点6に対して既知の固定的位置関係にある複数の点光源7を有する測定点教示手段5、この教示手段5のステレオ画像を得る2台の撮像装置1、2、これら撮像装置からのステレオ画像に基づいて、上記測定点の3次元位置を算出する3次元位置演算装置3、点光源7の発光を感知する点光源発光検出装置9、及びこの点光源発光検出装置9から送出される発光感知信号に基づいて上記3次元位置演算装置3を駆動する計測制御装置10で3次元位置測定装置を構成する。
請求項（抜粋）：
測定点を指示する指示点とこの指示点に対して予め既知の固定的位置関係にある複数の点光源とを有してなる測定点教示手段、この測定点教示手段のステレオ画像を得る、少なくとも2台の撮像装置、これら撮像装置からのステレオ画像に基づいて、上記測定点の3次元位置を算出する3次元位置演算手段、上記点光源の発光を感知する点光源発光検出手段、及びこの点光源発光検出手段から送出される発光感知信号に基づいて上記3次元位置演算手段を駆動する計測制御手段を備えたことを特徴とする3次元位置測定装置。
IPC (4件)：
G01B 11/00
, G01C 3/06
, G01C 11/06
, G01C 15/00
