特許

J-GLOBAL ID：200903080523895426

質量分析装置

発明者： 仲山 要二
出願人/特許権者： 日本電子株式会社
代理人 (1件)： 阿部 龍吉 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-229531
公開番号（公開出願番号）：特開2001-050945
出願日： 1999年08月16日
公開日（公表日）： 2001年02月23日
要約：

【要約】【課題】 バックグランド除去が確実に行え、ライブラリ検索での同定判定を向上させる。【解決手段】 クロマトグラフにより化合物を分離しイオン化して質量分析計の測定データを取得し(ステップS13)、全期間の測定データのクロマトグラム(ステップS14)より指定ポイントに基づいてスペクトルを抽出し(ステップS15、S18)、既知の化合物のスペクトルを格納したライブラリを検索して(ステップS19)化合物の定性分析を行う質量分析装置において、指定ポイント近傍の測定データによる各イオンクロマトグラムのピーク判定を行い(ステップS16〜S18)、ピークの存在するイオンのスペクトルを抽出する。

請求項（抜粋）：

クロマトグラフにより化合物を分離しイオン化して質量分析計の測定データを取得し、全期間の測定データのクロマトグラムより指定ポイントに基づいてスペクトルを抽出し既知の化合物のスペクトルを格納したライブラリを検索して化合物の定性分析を行う質量分析装置において、前記指定ポイント近傍の測定データによる各イオンクロマトグラムのピーク判定を行い、ピークの存在するイオンのスペクトルを抽出することを特徴とする質量分析装置。

IPC (3件)：

G01N 30/72 ,  G01N 27/62 ,  G01N 30/86

FI (4件)：

G01N 30/72 C ,  G01N 30/72 A ,  G01N 27/62 C ,  G01N 30/86 G