特許
J-GLOBAL ID：200903080530272230
電磁界測定装置または電磁界測定方法およびそれを用いた電子部品または電子装置の製造方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
作田 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-142291
公開番号（公開出願番号）：特開2001-318112
出願日： 2000年05月10日
公開日（公表日）： 2001年11月16日
要約：
【要約】【課題】電波暗室等を使用することなく装置近傍で測定した電界または磁界から所望の距離における電界または磁界を推定することである。【解決手段】被測定対象である電子機器からの距離をr、測定波長をλ、測定装置の実効的な最大寸法をDとしたとき、r>λ/2πかつr<2D<SP>2</SP>/λを満たす領域内の複数の点で電界または磁界を測定し、最大値を検出する、あるいは複数の波源を逆算することにより遠方界の測定を行う。
請求項（抜粋）：
電子部品または電子装置の発生する電磁界を測定する装置であって、電子部品または電子装置からの距離をr、測定波長をλ、前記電磁界測定装置の実効的な最大寸法をDとしたとき、r>λ/2πかつr<2D<SP>2</SP>/λを満たす領域内で複数の点における電界または磁界を測定した結果から所望の位置における電磁波の値を予測する手段を備えたことを特徴とする電磁界測定装置。
引用特許：
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